1. Accelerating test, validation and debug of high speed serial interfaces
پدیدآورنده :
کتابخانه: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع : Interface circuits ; Testing. ; Very high speed integrated circuits ; Testing. ;
تعداد ۲ پاسخ غیر تکراری از ۲ پاسخ تکراری در مدت زمان ۱,۰۹ ثانیه یافت شد.
